絕緣材料介電常數(shù)測試儀簡介高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據(jù)國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。

絕緣材料介電常數(shù)測試儀簡介滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法。

絕緣材料介電常數(shù)測試儀基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表，其數(shù)碼化主調電容器的創(chuàng)新設計代表了行業(yè)的高成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。

該表具有*人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。

高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。

國標GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)，把被測材料作為平板電容的介質，與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度。

因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態(tài)下的特征。

絕緣材料介電常數(shù)測試儀測試裝置                            GDAT主機

平板電容極片 Φ50mm                            可選頻率范圍20KHz-60MHz、

間距可調范圍≥15mm                            頻率指示誤差3×10-5±1個字

夾具插頭間距25mm±0.01mm                       主電容調節(jié)范圍30-500

測微桿分辨率0.001mm                          主調電容誤差<1%或1pF

夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)               Q測試范圍2～1023

絕緣材料介電常數(shù)測試儀注意事項：

1． 測試裝置使用結束后，請及時關閉液晶顯示屏的電源，可延長電池的壽命。

如果電池發(fā)出電壓低報警，應及時更換電池保證測量的精度。

電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。

用工具將十字蓋冒逆時針旋轉約45°，既可取下十字蓋冒，更換電池。

2．本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備，所以在使用和保存時要避免振動和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，用戶不能自行拆裝，否則其工作性能就不能保證，如測試夾具受到碰撞，可以送生產廠家定期檢查，要檢測以下幾個指標：

1. 平板電容器二極片平行度在0-5mm間連續(xù)不超過0.05 mm。
2. 圓筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。

絕緣材料介電常數(shù)測試儀工作特性

1. 平板電容器：

極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

極片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10^－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

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介電常數(shù)測試儀

高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀  

介電常數(shù)介質損耗測試儀

絕緣材料介電常數(shù)測試儀